

飞行时间二次离子质谱仪
- 新一代 TRIFT 质量分析器,更好的质量分辨率
- 适用于绝缘材料的无人值守自动化多样品分析
- 离子束技术
- 平行成像 MS/MS 功能,助力有机大分子结构分析
- 多功能选配附件
TRIFT分析器适用于各种形状的样品
宽带通能量+宽立体接收角度
宽带通能量、宽立体接受角-适用于各种形貌样品分析

实现高精度分析的一次离子枪
离子束技术实现更高质量分辨
PHI nanoTOF3+ 能够提供高质量分辨和高空间分辨的TOF-SIMS分析 :在高质量分辨模式下,其空间分辨率优于500 nm ;在高
空间分辨模式下,其空间分辨模式优于50 nm。通过结合高强度离子源、高精度脉冲组件和高分辨率质量分析器,可以实现低
噪声、高灵敏度和高质量分辨率的测量 ;在这两种模式下,只需几分钟的测试时间,均可完成采谱分析。

TOF-SIMS自动化多样品分析-适用于绝缘材料
PHI nanoTOF3+搭载全新开发的自动化多样品分析功能,程序可根据样品导电性自动调整分析时所需的高度与样品台偏压,可以对包括绝缘材料在内的各类样品进行无人值守自动化TOF-SIMS分析。
整个分析过程非常简单,只需三步即可对多个样品进行表面或深度分析 :①在进样室拍摄样品台照片 ;②在进样室拍摄的照片上指定分析点 ;③按下分析键,设备自动开始分析。过去,必须有熟练的操作人员专门操作仪器才能进行TOF-SIMS分析 ;现在,无论操作人员是否熟练,都可以获得高质量的分析数据。

标配自动化传样系统
PHI nanoTOF3+配置了在XPS上表现优异的全自动样品传送系统:样品尺寸可达100mmx100 mm,而且分析室标配内置样品托停放装置 ;结合分析序列编辑器(Queue Editor),可以实现对大量样品的全自动连续测试。

采用新开发的脉冲氲离子枪获得
Patent自动荷电双束中和技术
TOF-SIMS测试的大部分样品为绝缘样品,而绝缘样品表面通常有荷电效应。PHI nanoTOF3+采用自动荷电双束中和技术,通过同时发射低能量电子束和低能量氲离子束,可实现对任何类型和各种形貌的绝缘材料的真正自动荷电中和,无需额外的人为操作。
·需要选配Ar离子枪

远程访问实现远程控制仪器
PHI nanoTOF3+允许通过局域网或互联网访问仪器。只需将样品台放入进样室,就可以对进样、换样、测试和分析等所有操作进行远程控制。我们的专业人员可以对仪器进行远程诊断*如需远程诊断,请联系我们的客户服务人员。

从截面加工到截面分析:只需一个离子源即可完成
标配离子枪FIB(Focused lon Beam)功能
在PHI nanoTOF3+中,液态金属离子枪具备FIB功能,可以使用单个离子枪对样品进行横截面加工和横截面TOF-SIMS分析。通过操作计算机,可以快速轻松地完成从FIB处理到TOF-SIMS分析的全过程。此外,可在冷却条件下进行FIB加工。在选配Ga源进行FIB加工时,可以获得FIB加工区域的3D影像 ;Ga源还可以作为第二分析源进行TOF-SIMS分析。


通过平行成像MS/MS进行分子结构分析[选配]
MS/MS平行成像同时采集MS1/MS2数据
在TOF-SIMS测试中,MS1质量分析分析器接收从样品表面产生的所有二次离子碎片,对于质量数接近的大分子离子,MS1谱图难以区分。通过安装串联质谱MS2,对于特定离子进行碰撞诱导解离生产特征离子碎片,MS2谱图可以实现对分子结构的进一步鉴定。PHI nanoTOF3 +具备串联质谱MS/MS平行成像功能,可以同时获取分析区域的MS1和MS2数据,为有机大分子结构解析提供了强有力的工具。


多样化配置充分发挥TOF-SIMS潜力

可拆卸手套箱:可安装在样品导入室
可以选配直接连接到样品进样室的可拆卸手套箱。锂离子电池和有机OLED等容易与大气发生反应的样品可以直接安装在样品台上。此外,在冷却分析后更换样品时,可以防止样品表面结霜。

氩团簇离子源(Ar-GCIB):有机材料深度剖析
使用氩团簇离子源(Ar-GCIB)能够有效减少溅射过程中对有机材料的破坏,从而在刻蚀过程中保留有机大分子结构信息。
Cs源和Ar/O2源:无机材料深度剖析
可根据测试需求选择不同的离子源提高二次离子产额,使用Cs源可增强负离子产额 ;O2源可增强正离子产额